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Atomic-resolution transmission electron microscopy of electron beam-sensitive crystalline materials 期刊论文
SCIENCE, 2018, 359 (6376) : 675-+
作者:  Zhang, Daliang;  Zhu, Yihan;  Liu, Lingmei;  Ying, Xiangrong;  Hsiung, Chia-En;  Sougrat, Rachid;  Li, Kun;  Han, Yu
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/11/27